コントロールに参加するときにビンニングをする材料テスターを配置するときに発生する可能性のある問題

材料試験機グレーディングプロセス中に、制御操作中にテストマシンでいくつかの問題が発生することが多く、マシンテスト操作中に使用が困難になります。

現在、材料の多様化により、ますます多くの試験方法が必要であり、テストマシンの制御方法の要件がますます増えています。例：ポリマー材料が必要ですテストマシン速度制御のために、建築材料には負荷制御が必要であり、金属材料が荷重または変形制御を必要とする必要があります。建物のコンポーネントは、閉ループシステムの変更内のリンクのパラメーターが変化する場合、自動制御理論から加速制御などを必要とする場合があります。システムが安定して動作できるようにするには、一部の制御パラメーター（通常はp.i.dパラメーター）を時間内に調整する必要があります。シフトとは、閉ループシステム内のアンプの増幅比を変更することであり、システム全体の作業状態の変化に必然的につながります。つまり、ギアをシフトした後、P.I.Dパラメーターを現在のギアに適した値に切り替える必要があります。しかし、問題は、ギアの位置に加えて、このパラメーター値もサンプルに関連しており、サンプルは常に変化しており、その特定の大きさを事前に決定できないことです。さらに、テスト結果に影響を与えるギアをシフトするときに制御の変動が発生します。過去には、高A/Dが利用できなかったため、データ収集が主な矛盾であったため、マルチクロップループテストマシンではグレーディングが依然として使用されていました。しかし、それは一般に3つのレベルに分割されているだけであり、使用するのは非常に厄介です。現在、高レベルのA/Dの問題は解決されており、簡単に使用することが問題になっています。したがって、一般的に言えば、非ステージ技術は基本的に多閉鎖ループテストマシンで採用されています。

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